薄膜放卷平整度檢測是一項關(guān)鍵任務(wù)，傳統(tǒng)的人工成本高且測量精度有限。

將激光位移傳感器安裝在薄膜的正上方，通過持續(xù)輸出距離數(shù)據(jù)至上位機，再對比薄膜通過時的距離數(shù)據(jù)，從而實現(xiàn)對片料平整度的準確檢測。例如，F(xiàn)SD22-30N-UI型號具有10um的重復精度，能夠滿足對薄膜平整度的高要求。